| X射线衍射里特沃尔德全谱图拟合法测定粉尘中游离的SiO2 |
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| 引用本文： | 曾令民,杨喜英,王力珩,李小萍,葛宪民. X射线衍射里特沃尔德全谱图拟合法测定粉尘中游离的SiO2[J]. 分析化学, 2008, 36(5): 599-603 |
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| 作者姓名： | 曾令民 杨喜英 王力珩 李小萍 葛宪民 |
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| 作者单位： | 广西大学物理科学与工程技术学院材料科学研究所,南宁,530004;广西大学化学化工学院,南宁,530004;广西职业病防治研究所,南宁,530021 |
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| 基金项目： | 广西自然科学基金 , 广西卫生厅资助基金 , 广西大型仪器协作公共网资助 |
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| 摘 要： | 应用X射线衍射技术与Rietveld全谱图拟合法测定了粉尘中游离SiO2的含量,并同时得到粉尘样品中其它晶相和非晶相物质的含量。实验采用日本理学D/MAX 2500V型X射线衍射仪,CuKα辐射带石墨单色器,管电压44 kV,管电流150 mA,步进扫描收集衍射数据,经Jade 5.0软件定性分析,DBWS9807a软件定量分析,结果为:Rp平均等于11.29%,Rwp平均等于13.74%,Rexpected平均等于4.04%。SiO2在各样品中的含量为15.61%~37.83%;加标回收率为102.6%~119.9%;重现性测定相对标准偏差(RSD)为1.14%。结果表明:用Rietveld全谱图拟合法测定粉尘中游离SiO2的含量是一种快速、准确、方便的方法。
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| 关 键 词： | 定量分析 游离二氧化硅 非晶体 X射线衍射 Rietveld全谱图拟合法 |
| 修稿时间： | 2007-08-30 |
Determination of Weight Concentration of Free Silicon Dioxide for Dust Using X-ray Diffraction Technique and Rietveld Refinement Method |
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| ZENG Ling-Min,YANG Xi-Ying,WANG Li-Heng,LI Xiao-Ping,GE Xian-Min. Determination of Weight Concentration of Free Silicon Dioxide for Dust Using X-ray Diffraction Technique and Rietveld Refinement Method[J]. Chinese Journal of Analytical Chemistry, 2008, 36(5): 599-603 |
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| Authors: | ZENG Ling-Min YANG Xi-Ying WANG Li-Heng LI Xiao-Ping GE Xian-Min |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Quantitative phase analysis free silicon dioxide amorphous X-ray powder diffraction Rietveld method |
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