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| 飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)结合化学衍生法分析杂环新化合物的结构 | |
| 作者姓名： | 邓朝辉 宗祥福 任平达 董庭威 |
| 作者单位： | 复旦大学材料科学系 上海200433(邓朝辉，宗祥福)，复旦大学化学系上海 200433(任平达)，复旦大学化学系上海 200433(董庭威) |
| 摘 要： | 飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)分析了难挥发的杂环新化合物咪唑啉硫氰酸盐及其三种衍生物,确认出很强的氢离化及银离化准分子离子峰,通过对各种衍生物谱图的对照分析,确认出较强的含有结构特征的碎片离子峰,并对该化合物在离子轰击下的裂解规律作了分析,支持了对该新化合物结构的鉴定. |
| 关 键 词： | 飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS) 杂环化合物 有机结构分析 |
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