YBCO薄膜微结构的表征 |
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引用本文: | 刘翠秀,陈向明,唐卫华,王勇,徐明,麦振洪,贾全杰,郑文莉,姜晓明,高矩. YBCO薄膜微结构的表征[J]. 中国物理 C, 2001, 25(Z1): 96-99 |
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作者姓名: | 刘翠秀 陈向明 唐卫华 王勇 徐明 麦振洪 贾全杰 郑文莉 姜晓明 高矩 |
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作者单位: | 刘翠秀(中国科学院物理研究所,北京,100080);陈向明(中国科学院物理研究所,北京,100080);唐卫华(香港大学物理系香港);王勇(中国科学院物理研究所,北京,100080);徐明(中国科学院物理研究所,北京,100080);麦振洪(中国科学院物理研究所,北京,100080);贾全杰(中国科学院高能物理研究所,北京,100039);郑文莉(中国科学院高能物理研究所,北京,100039);姜晓明(中国科学院高能物理研究所,北京,100039);高矩(香港大学物理系香港) |
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摘 要: | 用X射线衍射技术和扫描电镜详细表征了生长在Y-ZrO2(YSZ)衬底上YBa2Cu3O7-σ(YBCO)薄膜的微结构.结果发现,采用Eu2CuO4(ECO)做缓冲层,可以提高YBCO薄膜的质量,而不改变其超导性能.
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关 键 词: | YBCO X射线技术 微结构 |
Microstructural Characterization of YBCO Thin Films Grown on YSZ |
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Abstract: | |
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