| YBCO薄膜微结构的表征 |
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| 引用本文： | 刘翠秀,陈向明,唐卫华,王勇,徐明,麦振洪,贾全杰,郑文莉,姜晓明,高矩.YBCO薄膜微结构的表征[J].中国物理 C,2001,25(Z1):96-99. |
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| 作者姓名： | 刘翠秀 陈向明 唐卫华 王勇 徐明 麦振洪 贾全杰 郑文莉 姜晓明 高矩 |
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| 作者单位： | 刘翠秀（中国科学院物理研究所,北京,100080）;陈向明（中国科学院物理研究所,北京,100080）;唐卫华（香港大学物理系香港）;王勇（中国科学院物理研究所,北京,100080）;徐明（中国科学院物理研究所,北京,100080）;麦振洪（中国科学院物理研究所,北京,100080）;贾全杰（中国科学院高能物理研究所,北京,100039）;郑文莉（中国科学院高能物理研究所,北京,100039）;姜晓明（中国科学院高能物理研究所,北京,100039）;高矩（香港大学物理系香港） |
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| 摘 要： | 用X射线衍射技术和扫描电镜详细表征了生长在Y-ZrO2(YSZ)衬底上YBa2Cu3O7-σ(YBCO)薄膜的微结构.结果发现,采用Eu2CuO4(ECO)做缓冲层,可以提高YBCO薄膜的质量,而不改变其超导性能.
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| 关 键 词： | YBCO X射线技术 微结构 |
Microstructural Characterization of YBCO Thin Films Grown on YSZ |
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