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薄层硅烷同步外延的研究
引用本文:
张旗,李思渊,王根生,王兴斌.薄层硅烷同步外延的研究[J].半导体技术,1988(3).
作者姓名:
张旗
李思渊
王根生
王兴斌
作者单位:
兰州大学物理系 (张旗,李思渊,王根生),兰州大学物理系(王兴斌)
摘 要:
本文研究了薄层硅烷同步外延与SiH_4浓度、外延温度及时间分配诸方面的关系.给出了最佳工艺范围.
本文献已被
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