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| 大功率半导体激光器加速寿命测试方法 | |
| 引用本文： | 荣宝辉,王晓燕,安振峰,仲琳,陈国鹰,张存善.大功率半导体激光器加速寿命测试方法[J].半导体技术,2008,33(4):360-362. |
| 作者姓名： | 荣宝辉 王晓燕 安振峰 仲琳 陈国鹰 张存善 |
| 作者单位： | 1. 河北工业大学,信息工程学院,天津,300130;中国电子科技集团公司,第十三研究所,石家庄,050051 2. 中国电子科技集团公司,第十三研究所,石家庄,050051 3. 河北工业大学,信患工程学院,天津,300130 |
| 摘 要： | 大功率半导体激光器在高可靠性光学系统的应用中,寿命值预测十分关键.采用808 nm波长的无Al大功率半导体单管激光器进行了40、80℃的恒定温度的加速老化试验.应用Arrhenius和对数正态分布的理论对试验结果进行分析,计算出激光器长期退化的激活能为0.52 eV,推导得到激光器室温下工作的平均寿命为15 000 h.并对试验后的器件进行失效分析,找出失效原因. |
| 关 键 词： | 半导体激光器 加速老化 可靠性 寿命试验 |
| 文章编号： | 1003-353X(2008)04-0360-03 |
| 修稿时间： | 2007年11月14 |
Accelerated Life-Time Test of High-Power Laser Diode |
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| Rong Baohui,Wang Xiaoyan,An Zhenfeng,Zhong Lin,Chen Guoying,Zhang Cunshan.Accelerated Life-Time Test of High-Power Laser Diode[J].Semiconductor Technology,2008,33(4):360-362. | |
| Authors: | Rong Baohui Wang Xiaoyan An Zhenfeng Zhong Lin Chen Guoying Zhang Cunshan |
| Institution: | Rong Baohui1,2,Wang Xiaoyan2,An Zhenfeng2,Zhong Lin1,Chen Guoying1,Zhang Cunshan1(1.School of Information Engineering,Hebei University of Technology,Tianjin 300130,China,2.The 13th Research Institute,CETC,Shijiazhuang 050051,China) |
| Abstract: | |
| Keywords: | semiconductor laser accelerated aging reliability life-time experiment |
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