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适用于电子器件寿命测试的威布尔分布函数的导出

引用本文：	孙振东,王喜山.适用于电子器件寿命测试的威布尔分布函数的导出[J].烟台大学学报(自然科学与工程版),1992(1):67-69,66.

作者姓名：	孙振东王喜山

摘要：
关键词：	威布尔分布电子器件寿命测试
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