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低温绝对比热装置的研究
引用本文:王克勤,庄志忠.低温绝对比热装置的研究[J].低温物理学报,1996,18(5):339-344.
作者姓名:王克勤  庄志忠
作者单位:中国科技大学物理系
摘    要:我们已研制成功了低温绝对比热测量装置。该装置是用连续升温法进行测量,可测温度范围为10至300K。通常测量样品的质量为200mg左右,最小可测样品的质量为15mg,由于采取了间隔一段温度都检测其漏热情况,并利用漏热数据来修正比热数据,从而大大提高了测量的准确性和精度,通过纯铜样品的标定,在20-250K范围内其精度为0.8%,该装置采用计算机控温和数据采集,具有自动化程度高,灵敏度高,重复性好,操

关 键 词:比热测量  低温
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