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铜互连电镀中有机添加剂的合成与分析(英文)
作者姓名:翟悦晖  彭逸霄  洪延  陈苑明  周国云  何为  王朋举  陈先明  王翀
作者单位:1. 电子科技大学材料能源学院;3. 方正科技高密电子有限公司;4. 铭丰电子材料科技有限公司;5. 珠海越亚半导体股份有限公司
摘    要:铜互连是保障电子设备的功能、性能、能效、可靠性以及制备良品率至关重要的一环。铜互连常通过在酸性镀铜液电镀铜实现,并广泛用于芯片、封装基材和印制电路板中。其中,有机添加剂在调控铜沉积完成沟槽填充、微孔填充以形成精密线路和实现层间互连方面起着决定性作用。添加剂主要由光亮剂、抑制剂和整平剂三组分组成,在恰当的浓度配比下,添加剂对于盲孔超级填充具有协同作用。目前,已报导的文献聚焦于代表性添加剂的超填充机理及其电化学行为,而对于添加剂的化学结构与制备方法鲜有深入研究。本文重点研究了各添加剂组分的制备工艺和快速电化学筛选方法,为电镀铜添加剂的未来发展提供理论指导。

关 键 词:酸性电镀铜  铜互连  抑制剂  光亮剂  整平剂
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