| 镀膜厚度自动测量的一种方法——容量法 |
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| 引用本文： | 邱淑荣.镀膜厚度自动测量的一种方法——容量法[J].大学物理实验,2001,14(1):21-22. |
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| 作者姓名： | 邱淑荣 |
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| 作者单位： | 华北水利水电学院,郑州,450045 |
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| 摘 要： | 文章介绍了应用容量法自动测量镀膜厚度的理论依据、测试装置和测量结果.
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| 关 键 词： | 镀膜厚度 电容 电介质 |
| 文章编号： | 1007-2934(2001)01-0021-02 |
| 修稿时间： | 2000年6月29日 |
A METHOD OF MEASURING THE THICKNESS OF PLATING FILM AUTOMATICALLY-CAPACITY METHOD |
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| Qiu Shurong.A METHOD OF MEASURING THE THICKNESS OF PLATING FILM AUTOMATICALLY-CAPACITY METHOD[J].Physical Experiment of College,2001,14(1):21-22. |
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| Authors: | Qiu Shurong |
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| Abstract: | The theoretical basis,the testing device and the measurement result of testing the thickness of plating film automatically with capacity method are introduced. |
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| Keywords: | the thickness of plating film electric capacity method dielectric |
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