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聚合物栅绝缘层厚度对并五苯有机场效应管性能的影响
引用本文:杜博群,吴仁磊,赵庚,郑宏,田海军,梁晓宇,吴峰,程晓曼.聚合物栅绝缘层厚度对并五苯有机场效应管性能的影响[J].光电子.激光,2012(12):2255-2260.
作者姓名:杜博群  吴仁磊  赵庚  郑宏  田海军  梁晓宇  吴峰  程晓曼
作者单位:天津理工大学理学院;天津理工大学材料物理研究所教育部显示材料与光电器件重点实验室;天津理工大学理学院;天津理工大学材料物理研究所教育部显示材料与光电器件重点实验室;天津理工大学材料物理研究所教育部显示材料与光电器件重点实验室;天津理工大学材料物理研究所教育部显示材料与光电器件重点实验室;天津理工大学理学院;天津理工大学理学院;天津理工大学材料物理研究所教育部显示材料与光电器件重点实验室
基金项目:国家自然科学基金(61076065);天津市自然科学基金(07JCYBJC12700)资助项目
摘    要:采用不同厚度的聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)作为栅绝缘层,制备了并五苯有机场效应晶体管(OFET)。测量了不同厚度的PMMA的介电特性,并详细分析了栅绝缘层厚度对器件性能的影响。其中,采用260nm厚的PMMA栅绝缘层的OFET具有比采用其它厚度的器件更优越的性能,其场效应迁移率、阈值电压与开关电流比分别达到3.39×10-3 cm2/Vs、-19V和103。

关 键 词:有机场效应晶体管(OFET)  场效应迁移率  聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)  栅绝缘层厚度

Effect of thickness of poly(methyl methacrylate) gate dielectric on the performance of pentacene-based organic field-effect transistors
DU Bo-qun,WU Ren-lei,ZHAO Geng,ZHENG Hong,TIAN Hai-jun,LIANG Xiao-yu,WU Feng and CHENG Xiao-man.Effect of thickness of poly(methyl methacrylate) gate dielectric on the performance of pentacene-based organic field-effect transistors[J].Journal of Optoelectronics·laser,2012(12):2255-2260.
Authors:DU Bo-qun  WU Ren-lei  ZHAO Geng  ZHENG Hong  TIAN Hai-jun  LIANG Xiao-yu  WU Feng and CHENG Xiao-man
Institution:School of Science,Tianjin University of Technology,Tianjin 300384,China;Key Laboratory of Display Material and Photoelectric Devices,Ministry of Education of China,Institute of Material Physics,Tianjin University of Technology,Tianjin 300384,China;School of Science,Tianjin University of Technology,Tianjin 300384,China;Key Laboratory of Display Material and Photoelectric Devices,Ministry of Education of China,Institute of Material Physics,Tianjin University of Technology,Tianjin 300384,China;Key Laboratory of Display Material and Photoelectric Devices,Ministry of Education of China,Institute of Material Physics,Tianjin University of Technology,Tianjin 300384,China;Key Laboratory of Display Material and Photoelectric Devices,Ministry of Education of China,Institute of Material Physics,Tianjin University of Technology,Tianjin 300384,China;School of Science,Tianjin University of Technology,Tianjin 300384,China;School of Science,Tianjin University of Technology,Tianjin 300384,China;Key Laboratory of Display Material and Photoelectric Devices,Ministry of Education of China,Institute of Material Physics,Tianjin University of Technology,Tianjin 300384,China
Abstract:
Keywords:
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