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高密度封装技术推动测试技术发展
引用本文:
鲜飞.高密度封装技术推动测试技术发展[J].现代表面贴装资讯,2004,3(4):64-66.
作者姓名:
鲜飞
摘 要:
高密度封装技术的飞速发展也给测试技术提出了新挑战。为了应对挑战,新的测试技术不断涌现。本文主要介绍了几种新型测试技术的特点,并对未来测试技术的发展趋势及方向进行了初步分析。
关 键 词:
高密度封装
测试技术
发展趋势
应对挑战
未来
新挑战
方向
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