Relationship between x-ray pattern and defects-distribution in a polymer crystal

Summary The relationship between anx-ray pattern and a defects-distribution in a polymer crystal is derived mathematically. The results are classified into three typical cases by the probabilities of a defects-distribution. Each case is demonstrated by means of an optical diffraction method.The consequence is applied to the interpretation of the layer line streaks, found in ax-ray diagram of a well-oriented isotactic polypropylene.

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Zusammenfassung Die Beziehung zwischen einem Röntgeninterferenzdiagramm und einer Störstellenverteilung in einem Polymerkristall wird mathematisch abgeleitet. Die Ergebnisse lassen sich gemÄ\ der Wahrscheinlichkeitsverteilung der Defekte in drei typische FÄlle klassifizieren. Jeder dieser FÄlle wird mittels optischer Beugung demonstriert.Die Folgerungen werden auf die Interpretation der Schichtlinien-Streifen, die man im Röntgendiagramm eines hochorientierten isotaktischen Polypropylens findet, angewendet.