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下一代光学掩模制造技术
引用本文:谢常青.下一代光学掩模制造技术[J].微电子技术,2000,28(6):1-4.
作者姓名:谢常青
作者单位:中国科学院微电子中心三室!北京100010
摘    要:尽管其它光刻技术在不断快速发展,然而在0.13μm及0.13μm以下集成电路制造水平上,光学光刻仍然具有强大的生命力。随着光学光刻极限分辨率的不断提高,当代光学掩模制造技术面临着越来越严重的挑战。本文对下一代光学掩模工艺技术的技术指标和面临的技术困难进行了论述,并对其中一些关键的技术解决方案进行了简要分析。

关 键 词:光学光刻  光学邻近效应  移相掩模  光学掩模  制造技术

The Fabrication Technique for Next Generation Photomask
XIE Chang-qing.The Fabrication Technique for Next Generation Photomask[J].Microelectronic Technology,2000,28(6):1-4.
Authors:XIE Chang-qing
Abstract:Optical lithography will be still very strong for 0. 13um Integrated Circuits and below, even though other lithography techniques are still being developed rapidly, With the continuous improvement of optical lithography limit resolution, The current photomask fabrication technique is facing with more and more serious challenge. In this paper, The technology guideline and the technology difficulty for next generation photomask processes are discussed, and some pivotal technology resolving projects are also analysed briefly.
Keywords:nm optical lithography  157um optical lithography  Optical proximity  correction  Phase - shift mask
本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录!
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