|
|||||
|
|
| 200～1 100 nm光响应测试系统的研制 | |
| 引用本文： | 陈武,王勇,王水弟.200～1 100 nm光响应测试系统的研制[J].半导体光电,2000,21(4):291-292,295. |
| 作者姓名： | 陈武 王勇 王水弟 |
| 作者单位： | 清华大学微电子学研究所!北京100084(陈武，王勇，王水弟，单一林)，DetectionTechnologyInc.!Finland(MikkoMatikkala) |
| 摘 要： | 设计并制作了２００～１１００ｎｍ的光响应测试系统，该系统工作稳定可靠，并可消除光源拌动和突发性光源对测试的影响。 |
| 关 键 词： | 紫外光 光响应 测试系统 光探测器 |
| 文章编号： | 1001-5868(2000)04-0291-02 |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ | |