| ICP-OES常见干扰类型及校正方法探讨 |
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| 引用本文： | 杨开放. ICP-OES常见干扰类型及校正方法探讨[J]. 化学分析计量, 2016, 0(3): 73-76. DOI: 10.3969/j.issn.1008-6145.2016.03.020 |
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| 作者姓名： | 杨开放 |
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| 作者单位： | 镇江市环境监测中心站,江苏镇江,212009 |
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| 摘 要： | 电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP–OES)越来越多地应用于各类物质的分析检测。测定复杂样品时,仪器出现各种干扰问题是影响测定结果准确性的主要因素。根据仪器原理及样品进入ICP的顺序,对可能出现的化学干扰、物理干扰、记忆效应、电离干扰和光谱干扰进行原因分析。结合具体实例探讨各类干扰相应的校正方法,可以较好地消除干扰对测定结果的影响。
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| 关 键 词： | 电感耦合等离子体发射光谱仪 干扰 校正 |
Common Interference Types and Calibration Methods Discussion of ICP-OES |
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| Keywords: | ICP-OES interference calibration |
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