Si(Li)谱仪测量X射线荧光谱中CrK_β谱线化学位移的探索 |
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作者姓名: | 彭良强 魏成连 刘亚雯 张天保 吴强 |
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作者单位: | 中国科学院高能物理研究所 |
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基金项目: | 科学院“八五”重点项目,核分析技术开放实验室资助 |
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摘 要: | 采用放射源241Am59.6keVγ射线分别激发金属Cr、Cr2O3和K2CrO4,用Si(Li)谱仪比较测量其Kx射线的能量。实验表明K2CrO4中CrKβ能峰相对于金属Cr有2.12±0.27eV的位移。
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关 键 词: | 化学位移,X射线荧光,Si(Li)谱仪 |
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