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电子计算机自动X射线物相分析进展
引用本文:马礼敦.电子计算机自动X射线物相分析进展[J].化学通报,1983(2).
作者姓名:马礼敦
作者单位:复旦大学化学系
摘    要:利用X射线粉末衍射谱进行物相分析,由于不破坏样品,过程简单,结果准确可靠而成为化学化工、金属、地质及其它材料学科中最广泛使用的方法。 X射线物相分析是把待鉴定样品的衍射谱与一套物相已知的标准衍射谱进行对比,以确

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