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四孔散斑剪切干涉法
引用本文:曹正元 ,李伊凡.四孔散斑剪切干涉法[J].上海力学,1983(4).
作者姓名:曹正元  李伊凡
摘    要:散斑剪切干涉法是一种直接测量表面全场应变的方法,它取消了由测定位移而计算微分的要求。本文叙述了它的基本原理,采用离焦方法获得光学剪切,对其在测量面内应变值方面的应用,进行了实验论证。

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