电子设备间歇故障诊断技术综述 |
| |
引用本文: | 孟苓辉,谢锦阳,刘俊斌,周振威,何世烈,俞鹏飞,余陆斌.电子设备间歇故障诊断技术综述[J].电子质量,2023(6):102-108. |
| |
作者姓名: | 孟苓辉 谢锦阳 刘俊斌 周振威 何世烈 俞鹏飞 余陆斌 |
| |
作者单位: | 1. 工业和信息化部电子第五研究所;2. 电子元器件可靠性物理及应用技术重点实验室;3. 安徽理工大学人工智能学院 |
| |
摘 要: | 首先,介绍了间歇故障的基本概念,对导致电子设备出现间歇故障的原因及机理进行了总结;其次,对不同领域电子设备间歇故障诱因和影响进行了分析与归纳,分析了不同原因所导致电子设备间歇故障时的故障特征表现形式及其影响;然后,分别对基于模型、环境应力、专用测试和数据驱动的4类不同的间歇故障诊断方法及其技术研究现状进行了归纳论述;最后,对间歇故障诊断未来的研究方向进行了展望,以期为相关人员更好地了解和掌握电子设备间歇故障诊断技术提供一定的参考。
|
关 键 词: | 电子设备 间歇故障 故障诊断 |
|
|