基于ATE的SerDes功能测试技术研究 |
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引用本文: | 冉翠翠,王天元.基于ATE的SerDes功能测试技术研究[J].电子质量,2023(9):38-41. |
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作者姓名: | 冉翠翠 王天元 |
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作者单位: | 中国电子科技集团公司第五十八研究所 |
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摘 要: | 随着半导体行业的发展,特别是传输接口的发展,人们对传输速度的要求越来越高,串化器/解串器(SerDes)技术正在取代传统的并行传输成为新型的高速串口接口的主流。SerDes高速串行接口电路接口复杂,性能要求严格,为保证电路正常生产测试,对SerDes电路功能测试技术研究非常必要。基于ATE测试机台,重点针对SerDes类型电路的功能测试方法进行了研究。
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关 键 词: | SerDes电路 自动测试设备 测试 |
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