Application of DSC for the determination of purity of organic semiconductors

DSC method was developed for the analysis of organic and inorganic substances. Beside the common method short method is applied. Comparison of these two methods for the determination of purity on standard samples like indium, benzil, caffeine showed good similarity of the results so it allowed to use a short method for the determination of the amount of impurity in semiconductors such as bis(ethylenedithio)tetrathiofulvalen and tetrathiotetracene. These compounds are unstable and begin to decompose some times during melting.

---

Zusammenfassung Für die Analyse von organischen und anorganischen Substanzen wurde ein DSC-Verfahren entwickelt. Neben dem herkömmlichen wurde auch ein Kurzverfahren angewendet. Der Vergleich der Ergebnisse der zwei Verfahren bei der Reinheitsbestimmung von Standardproben, wie z.B. Indium, Biphenyl und Koffein zeigte eine gute übereinstimmung. Das Kurzverfahren kann somit gut zur Bestimmung des Verunreinigungsgrades von Halbleitern wie z.B. Bis-(äthylendithio)-tetrathiofulvalen und Tetrathiotetrazen genutzt werden. Diese Verbindungen zeigen nämlich während des Schmelzens mitunter Zersetzungserscheinungen.

---

. , . , , , , , // // . .