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一种液晶相位调制特性的测量方法
引用本文:杜升平,傅承毓,黄永梅,罗传欣,汪相如.一种液晶相位调制特性的测量方法[J].光子学报,2017,46(1).
作者姓名:杜升平  傅承毓  黄永梅  罗传欣  汪相如
作者单位:1. 中国科学院光电技术研究所,成都 610209;中国科学院大学,北京 100049;中国科学院光束控制重点实验室,成都 610209;2. 中国科学院光电技术研究所,成都 610209;中国科学院光束控制重点实验室,成都 610209;3. 电子科技大学 光电信息学院,成都,610054
基金项目:中国科学院先导项目量子通信(No.KX-002)资助 The Special Fund for Strategic Pilot Technology Chinese Academy of Sciences
摘    要:提出一种基于衍射光栅的液晶相位调制特性测量方法.该方法利用液晶构建相位分别为0和φ的二值光栅,通过傅里叶光学的方法推导衍射光栅第0级衍射光斑光强和调制相位φ之间的关系,然后实测光强和液晶驱动电压之间的对应关系来得到相位和液晶驱动电压之间的对应关系,即液晶相位光栅的相位调制特性.最后利用测量相位调制特性结果构建液晶相控阵,用光束偏转误差验证调制特性测量结果,相位测量误差小于1×10~(-3)rad.

关 键 词:衍射光栅  液晶  傅里叶光学  调制特性  相控阵
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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