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基于光源近场模型的LED光学扩展量测量方法
引用本文:桂立,尹韶云,蔡文涛,孙秀辉,杜春雷,丁学专.基于光源近场模型的LED光学扩展量测量方法[J].光子学报,2017,46(1).
作者姓名:桂立  尹韶云  蔡文涛  孙秀辉  杜春雷  丁学专
作者单位:1. 中国科学院重庆绿色智能技术研究院 集成光电技术研究中心, 重庆 400714;中国科学院上海技术物理研究所 红外探测与成像技术重点实验室, 上海 200083;2. 中国科学院重庆绿色智能技术研究院 集成光电技术研究中心,重庆,400714;3. 中国科学院上海技术物理研究所 红外探测与成像技术重点实验室,上海,200083
基金项目:国家自然科学基金,国家高技术研究发展计划(No.2014AA123202)资助 The National Natural Science Foundation of China,the National High Technology Research and Development Program of China
摘    要:基于精确的LED光源近场模型,提出了一种LED光学扩展量测量方法.通过追迹LED近场光源模型中的光线数据,可获得LED光功率关于光学扩展量的关系曲线,直观反映出LED光源的光学扩展量特性和光能利用率等信息.以紫外曝光系统中的UV-LED阵列面光源为例,对三款不同型号的UV-LED进行了实际测量.通过测量得到的光学扩展量和光能利用率曲线,可以对UV-LED的光束质量作出判断,并为阵列面光源的优化设计提供帮助.

关 键 词:非成像光学  光学扩展量  光源近场  发光二极管  光学设计

Measurement Method of LED Etendue Based on Near-field Source Model
Abstract:A method for measuring the étendue of LED was proposed based on the near-field model of the LED source.The curve of luminous power on étendue can be obtained by tracing rays data in LED near-field moled, which can directly reflect the étendue characteristics and the energy efficieny of LED source.Taking the UV-LED array surface source in the exposure system as an example, the actual measurement of the three different models of UV-LED were carried out.The designer can make a judgment on the UV-LED beam quality by the étendue and energy efficiency curve, which can provide help for the optimization design of the UV-LED array surface source.
Keywords:Non-imaging optics  Etendue  Light source near-field  Light-emitting diode  Optical design
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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