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| 基亏μC／OS-Ⅱ的高精度超声波测距系统设计 | |
| 引用本文： | 王祖麟,余强,谢毓.基亏μC／OS-Ⅱ的高精度超声波测距系统设计[J].国外电子元器件,2009(7):20-22. |
| 作者姓名： | 王祖麟 余强 谢毓 |
| 作者单位： | 江西理工大学机电工程学院,江西赣州341000 |
| 摘 要： | 介绍一种以ARM处理器LPC2138为核心，采用超声波回波信号的A／D采样检测原理，实时测距，液晶屏显示的便携式系统。该系统利用ARM处理器处理速度快的优点，自行处理A／D采样速度。系统的测距范围在0．1-4．5m内，测量精度为1cm，实时性好，准确方便，有较高的推广价值。 |
| 关 键 词： | 超声波测距 μC/OS-Ⅱ ARM MC3403 液晶显示(LCD) |
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