ICP—AES初级专家系统中的谱线模拟

本文阐述了ＩＣＰ－ＡＥＳ初级专家系统中谱线模拟的理论基础，模拟了Ｃａ，Ｍｇ和Ａｌ在ＬＴＥ和ｎｏｎ－ＬＴＥ情况下的离子线与原子线，证明在ｎｏｎ－ＬＴＥ的条件下，离子线与原子线的强度比增强了，比ＬＴＤ条件下的结果更接近实际扫描谱图，本研究模拟了Ｃａ和Ｍｇ离子线的跃迁上能级能量对离子线强度的影响。