| 椭偏测厚仪测量结果的计算机数据处理 |
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| 引用本文： | 刘倬建,唐振方. 椭偏测厚仪测量结果的计算机数据处理[J]. 大学物理实验, 2003, 16(1): 65-68 |
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| 作者姓名： | 刘倬建 唐振方 |
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| 作者单位： | 暨南大学,广州,510632;暨南大学,广州,510632 |
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| 摘 要： | 本详尽介绍了椭偏术测量单层透明薄膜折射率和厚度的方法，采用一种数字迭代计算方法，由测量得到的起偏角A和检偏角P直接算出所测薄膜的折射率和厚度。经过数值试验及与标准值比对，由此编制的计算程序具有准确，快速，方便的特点。
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| 关 键 词： | 椭偏测厚 数据处理 程序设计 |
MEASURING THE RESULTS OF OVAL THICKNESS METER IN THE COMPUTER DATAS HANDLING |
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| Liu zhuojian Tang zhenfang. MEASURING THE RESULTS OF OVAL THICKNESS METER IN THE COMPUTER DATAS HANDLING[J]. Physical Experiment of College, 2003, 16(1): 65-68 |
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| Authors: | Liu zhuojian Tang zhenfang |
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| Abstract: | This paper introduces the method of measuring the results of oval thickness meter in the computer datas handling.This computer procedure has the characteristies of correctness and convenience. |
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| Keywords: | oval thickness data handling procedure designing |
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