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| 度量子空间上概率测度的弱收敛问题 | |
| 引用本文： | 金冶明.度量子空间上概率测度的弱收敛问题[J].数学理论与应用,1983(1). |
| 作者姓名： | 金冶明 |
| 作者单位： | 国防科技大学 |
| 摘 要： | 设{X_n},{Y_n}分别是度量空间C,D上的两个随机元序列,这里C,D分别表示度量空间C0,1],D0,1]。C上的度量为通常的一致距离,图为ρ;D上的度量为Skorohod距离,记为d,由一致距离ρ产生的拓扑称为一致拓扑,记为,由Skorohod距离d所产生的拓扑,称为Skorohod拓扑,记为u'=σ(),=σ()分别表示由开集类,'所产生的σ域W为c上的Weinri测度W'是W在D的扩张。1]中引理2.8指出: |
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