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GaN 紫外焦平面注入效率研究
引用本文:徐运华,张松,谢文青,亢勇,李雪,方家熊.GaN 紫外焦平面注入效率研究[J].半导体光电,2005,26(Z1):60-63,66.
作者姓名:徐运华  张松  谢文青  亢勇  李雪  方家熊
作者单位:中国科学院上海技术物理研究所,传感技术国家重点实验室,上海,200083
摘    要:对CTIA和DI注入结构的GaN pin型紫外焦平面的注入效率进行了实验和数学仿真研究.测试和分析了等效串联电阻、接触电阻和读出电路输入阻抗等因素在不同条件下对注入效率的影响及其相互关系.

关 键 词:GaN  焦平面  注入效率  紫外焦平面  注入效率  效率研究  Focal  Plane  Arrays  efficiency  相互关系  影响  条件  因素  输入阻抗  读出电路  接触电阻  等效串联电阻  分析  测试  仿真研究  数学  实验  结构  CTIA
文章编号:1001-5868(2005)S-0060-04
修稿时间:2004年11月22日

Injection efficiency of GaN UV Focal Plane Arrays
XU Yun-hua,ZHANG Song,XIE Wen-qing,KANG Yong,LI Xue,FANG Jia-xiong.Injection efficiency of GaN UV Focal Plane Arrays[J].Semiconductor Optoelectronics,2005,26(Z1):60-63,66.
Authors:XU Yun-hua  ZHANG Song  XIE Wen-qing  KANG Yong  LI Xue  FANG Jia-xiong
Abstract:
Keywords:
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