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迈克耳孙干涉仪旋转样品法测量透明玻璃厚度
引用本文:王仁洲,杨涛. 迈克耳孙干涉仪旋转样品法测量透明玻璃厚度[J]. 物理实验, 2014, 0(11)
作者姓名:王仁洲  杨涛
作者单位:南京邮电大学理学院,江苏南京,210023
基金项目:国家自然科学基金资助项目
摘    要:使用迈克耳孙干涉仪通过旋转样品测量透明玻璃厚度.与白光干涉原理测薄片厚度不同,实验通过改变在光的传播路径上垂直放置的透明玻璃与光传播方向的角度,使相干光的干涉条纹发生变化,利用干涉条纹与转过角度、透明玻璃厚度之间的关系,通过实验准确测量出透明玻璃的厚度.

关 键 词:迈克耳孙干涉仪  透明玻璃  光程差

Rotating sample method to measure thickness of transparent glass wafer using Michelson interferometer
WANG Ren-zhou,YANG Tao. Rotating sample method to measure thickness of transparent glass wafer using Michelson interferometer[J]. Physics Experimentation, 2014, 0(11)
Authors:WANG Ren-zhou  YANG Tao
Abstract:
Keywords:Michelson interferometer  transparent glass  optical path difference
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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