| 电子电器产品塑料部件中限用有害重金属元素的X射线荧光定性筛选和ICP-AES定量检测 |
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| 引用本文： | 李艳秋,薛秋红,程刚,蔡发,马昕.电子电器产品塑料部件中限用有害重金属元素的X射线荧光定性筛选和ICP-AES定量检测[J].光谱实验室,2006,23(4):680-683. |
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| 作者姓名： | 李艳秋 薛秋红 程刚 蔡发 马昕 |
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| 作者单位： | 山东出入境检验检疫局,266002;山东出入境检验检疫局,266002;山东出入境检验检疫局,266002;山东出入境检验检疫局,266002;山东出入境检验检疫局,266002 |
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| 摘 要： | 针对欧盟WEEE和RoHS指令所限制使用的有害重金属元素铅、镉、铬和汞,本文在X射线荧光定性筛选的基础上,采用普通聚四氟乙烯氧弹,建立了高温高压密闭酸消解体系和电感耦合等离子体原子发射光谱ICP-AES相结合的定量检测技术.本方法中各元素的平均回收率范围为79.8%-97.5%,结果表明,相对标准偏差范围为0.038%-0.16%,方法的检出限为铅0.012μg/mL、镉0.010μg/mL、铬0.010μg/mL、汞0.12μg/mL,完全满足欧盟法令的要求.本方法适用于电子电气产品塑料部件中铅、镉、铬和汞含量的定性筛选和定量检测.本方法简单高效,结果准确,可满足企业原材料筛选和产品质量控制的需要.
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| 关 键 词： | 关键词电子电器产品 X射线荧光筛选 电感耦合等离子体-原子发射光谱法 酸消解 铅 铬 汞 镉 |
| 文章编号： | 1004-8138(2006)04-0680-04 |
| 收稿时间： | 2005-12-06 |
| 修稿时间： | 2006-03-23 |
Determination of Regulated Cd, Cr,Hg and Pb in Polymer Materials of Electrotechnical Products by ICP-AES and X-ray Spectrometry |
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| LI Yan-Qiu,XUE Qiu-Hong,CHENG Gang,CAI Fa,MA Xin.Determination of Regulated Cd, Cr,Hg and Pb in Polymer Materials of Electrotechnical Products by ICP-AES and X-ray Spectrometry[J].Chinese Journal of Spectroscopy Laboratory,2006,23(4):680-683. |
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| Authors: | LI Yan-Qiu XUE Qiu-Hong CHENG Gang CAI Fa MA Xin |
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| Institution: | Shandong Entry-Exit Inspertion and Quarantine Bureau, No. 70 Qutangxialu,Qingdao, Shandong 266002 P. R. China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Electrotechnical Product XRF Screening ICP-AES Acid Digestion Pb Cr Hg Cd |
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