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Anwendung von SEPIL auf die Festkörper-Defektchemie von Fluoriten und die extreme anorganische Spurenanalyse |
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| Authors: | John C. Wright D. R. Tallant F. J. Gustafson M. V. Johnston M. P. Miller D. S. Moore L. C. Porter J. R. Akse |
| Abstract: | |
| Keywords: | |