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| 对美国ORTEC正电子寿命系统计数率的调试 | |
| 引用本文： | 王丽君,方建勋,征洋.对美国ORTEC正电子寿命系统计数率的调试[J].物理实验,1991(4). |
| 作者姓名： | 王丽君 方建勋 征洋 |
| 作者单位： | 安徽师范大学物理系，安徽师范大学物理系，安徽师范大学物理系 |
| 摘 要： | 美国ORTEC公司的正电子寿命系统采用快—快符合电路组装,和快—慢符合电路相比,具有结构简单,可使用较强的源,测谱时间短等优点。我们购置的一台ORTEC正电子寿命系统,自去年年底在上海复旦大学验收以后,较长一段时间内都在由厂方确定的工作状态下进行工作。虽然该仪器自动化性能较高,使用方便,也有较好的时间分辨率(表1中*);但是在计数率方面不理想,用10μCi的~(60)Co源测仪器的时间分辨率和用50μCi的~(22)Na点源测材料的寿命谱,测量时间都较长(表1中*,表2中RT_1)没有发挥快—快符合的优点。为此,我们又对仪器的工作状态进行了一些调试,尤其对甄别器的能窗作了多种设置,从中选出一种既能 |
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