| 基于数据流图划分的低峰值功耗扫描测试 |
| |
| 引用本文： | 李锐,杨军,吴光林,凌明.基于数据流图划分的低峰值功耗扫描测试[J].电路与系统学报,2006,11(1):128-132. |
| |
| 作者姓名： | 李锐 杨军 吴光林 凌明 |
| |
| 作者单位： | 东南大学,国家专用集成电路系统工程技术研究中心,江苏,南京,210096 |
| |
| 基金项目： | 中国科学院资助项目，江苏省高技术研究发展计划项目 |
| |
| 摘 要： | 扫描测试作为数字集成电路设计中最常用的可测性设计方法,能显著提高电路的可测性,但同时也会引起测试功耗问题.本文采用划分待测电路数据流图的方法降低测试峰值功耗.实验表明,在稍微降低故障覆盖率的条件下,本文提出的测试方法能显著降低测试的峰值功耗,同时也能降低平均功耗和能耗.
|
| 关 键 词： | 扫描 峰值功耗 可测性设计 测试 |
| 文章编号： | 1007-0249（2006）00-0128-05 |
| 收稿时间： | 2004-03-29 |
| 修稿时间： | 2004-05-18 |
Low peak power scan testing based on partitioning data transfer graph |
| |
| LI Rui,YANG Jun,WU Guang-lin,LING Ming.Low peak power scan testing based on partitioning data transfer graph[J].Journal of Circuits and Systems,2006,11(1):128-132. |
| |
| Authors: | LI Rui YANG Jun WU Guang-lin LING Ming |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | scan peak power design-for-test test |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ |
|
