用低温扫描电子显微镜观察 YBaCuO 超导薄膜的临界电流密度 J_c 的分布 |
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引用本文: | 冯一军,程其恒,刘含默,吴培亨,杨森祖,吉争鸣,孙志坚,金飚兵.用低温扫描电子显微镜观察 YBaCuO 超导薄膜的临界电流密度 J_c 的分布[J].低温物理学报,1991(5). |
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作者姓名: | 冯一军 程其恒 刘含默 吴培亨 杨森祖 吉争鸣 孙志坚 金飚兵 |
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作者单位: | 南京大学现代分析中心,南京大学现代分析中心,南京大学信息物理系,南京大学现代分析中心,南京大学现代分析中心,南京大学现代分析中心,南京大学现代分析中心,南京大学现代分析中心 南京,210008,南京,210008,南京,210008,南京,210008,南京,210008,南京,210008,南京,210008,南京,210008 |
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摘 要: | 利用低温扫描电子显微镜(LTSEM),我们对高温超导 YBaCuO 外延膜的临界电流密度J_c 和临界温度 T_c 的分布进行了观察.低温扫描电镜是目前可以观察超导薄膜中 J_c、T_c 分布情况的仪器,本文详细说明了利用 LTSEM 来观察超导薄膜 J_c、T_c 分布情况的原理,以及如何将 SEM 改装为 LTSEM.实验结果表明 YBaCuO 外延膜表面临界电流密度 J_c 和临界温度 T_c 的分布是不均匀的,但其不均匀性比多晶膜小得多,而且其分布情况与膜的表面形貌有关.
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