| 能散X射线荧光光谱法测定烧结预配料中铁硅钙 |
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| 引用本文： | 王朝斗,张作政,万爱伏,郭晓明.能散X射线荧光光谱法测定烧结预配料中铁硅钙[J].理化检验(化学分册),2004,40(12):729-730. |
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| 作者姓名： | 王朝斗 张作政 万爱伏 郭晓明 |
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| 作者单位： | 1. 安钢集团水冶钢铁公司,安阳,455133
2. 上海精谱仪器有限公司 |
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| 摘 要： | 目前对用XRF法分析样品化学成分研究很多，但大部分是运用进口波散型荧光仪WDXRF进行分析。而使用国产能散型荧光仪EDXRF分析样品化学成分研究很少。本文用国产能谱仪用XRF法对烧结用预配料中铁、硅、钙进行分析，运用了有关数学校正方法，绘制了标准曲线。经试验本法精密度高、速度快，能满足生产控制分析需要。
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| 关 键 词： | 化学成分 分析 国产 标准曲线 荧光 研究 样品 预配料 EDXRF 生产控制 |
| 文章编号： | 1001-4020(2004)12-0729-02 |
| 修稿时间： | 2003年4月28日 |
Energy Dispersion XRFS Determination of Iron Silicon and Tungsten in Sintered Preparatory Burden |
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