首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

射频溅射生长的氮化硅膜的椭偏光谱测量
作者姓名:余玉贞  张世宏  黄炳忠
作者单位:中山大学物理系(余玉贞,张世宏),中山大学物理系(黄炳忠)
摘    要:本文提出一种处理数据的方法,以解决利用两个椭偏测量值ψ、△,求解两个以上未知参量,得到了在本实验条件下生长的氮化硅膜的实在折射率及其色散,以及氮化硅膜的生长率.实验结果还表明,氮化硅与硅衬底间存在一界面层,

本文献已被 CNKI 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号