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电化学扫描探针显微镜在表面微/纳米加工的应用
引用本文:汤儆,毛秉伟,田中群.电化学扫描探针显微镜在表面微/纳米加工的应用[J].微纳电子技术,2003,40(7):192-196.
作者姓名:汤儆  毛秉伟  田中群
作者单位:固体表面物理化学重点实验室,化学系,福建,厦门,361005
基金项目:科技部863计划资助项目(2002AA404170)
摘    要:概述了在固/液界面微/纳米加工中经常采用的三种电化学扫描探针显微镜(EC-SPM)技术,分别讨论了电化学扫描隧道显微镜(EC-STM)、电化学原子力显微镜(EC-AFM)和扫描电化学显微镜(SECM)在应用于微/纳米加工时的基本原理和各种方法,并综合比较和分析了这三种技术的优缺点。

关 键 词:电化学扫描探针显微镜  表面微加工  纳米加工  电化学  工作原理  针尖诱导法
文章编号:1671-4776(2003)07/08-0192-05
修稿时间:2003年5月15日

Micro-and nano-fabrication by EC-SPM
Abstract:
Keywords:
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