| 长期存贮CCD的可靠性试验分析 |
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| 引用本文： | 吴琼瑶,尹燕萍.长期存贮CCD的可靠性试验分析[J].电子产品可靠性与环境试验,2008,26(3). |
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| 作者姓名： | 吴琼瑶 尹燕萍 |
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| 作者单位： | 中国电子科技集团公司第四十四研究所,重庆,400060 |
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| 摘 要： | 采用外部检查和气密性检测等试验方法,对长期存贮的电荷耦合器件(CCD)的质量进行评价.对失效原因进行了分析,进而提出了在CCD的封装、贮存和运输过程中,提高CCD可靠性的具体方法,可保证其贮存寿命在10年以上.
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| 关 键 词： | 电荷耦合器件 外部检查 气密性检测 可靠性试验 可靠性试验分析 Storage Analysis Test 贮存寿命 试验方法 运输过程 封装 失效原因 评价 质量 电荷耦合器件 气密性检测 检查 |
Reliability Test and Analysis of Long Storage CCDs |
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| WU Qiong-yao,YIN Yan-ping.Reliability Test and Analysis of Long Storage CCDs[J].Electronic Product Reliability and Environmental Testing,2008,26(3). |
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| Authors: | WU Qiong-yao YIN Yan-ping |
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