首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

反馈式ECL记忆门的记忆性能和移位计数器
引用本文:刘莹,方倩,方振贤.反馈式ECL记忆门的记忆性能和移位计数器[J].半导体学报,2006,27(12):2184-2189.
作者姓名:刘莹  方倩  方振贤
作者单位:黑龙江大学电子工程学院,哈尔滨 150080;同济大学电子与信息工程学院,上海 201804;黑龙江大学电子工程学院,哈尔滨 150080
基金项目:黑龙江省重点实验室基金 , 黑龙江省科技攻关项目
摘    要:经过数学论证表明,改进反馈式ECL(MFECL)门可在二个状态中任一态保持稳定,所以认为MFECL门就是一种ECL记忆门或D锁存器.提出了一种由两个ECL记忆门组成的ECL主从D触发器.在上述理论基础上,利用此主从D触发器设计出5进制移位型计数器.经过计算机模拟上述电路,验证了理论和电路的正确性.

关 键 词:反馈式ECL记忆门的记忆性能  D锁存器  主从D触发器  5进制移位型计数器  反馈式  记忆性能  移位计数器  Counter  Feedback  Property  验证  电路  模拟上  计算机  移位型计数器  进制  触发器设计  利用  理论  组成  锁存器  稳定  状态  改进
文章编号:0253-4177(2006)12-2184-06
收稿时间:02 24 2006 12:00AM
修稿时间:7/25/2006 5:36:31 AM

Memory Property of a Feedback ECL Memory-Gate and ECL Shifting Counter
Liu Ying,Fang Qian and Fang Zhenxian.Memory Property of a Feedback ECL Memory-Gate and ECL Shifting Counter[J].Chinese Journal of Semiconductors,2006,27(12):2184-2189.
Authors:Liu Ying  Fang Qian and Fang Zhenxian
Institution:College of Electronic Engineering,Heilongjiang University,Harbin 150080,China;College of Electronic and Information Engineering,Tongji University,Shanghai 201804,China;College of Electronic Engineering,Heilongjiang University,Harbin 150080,China
Abstract:By mathematical proof,we identify a modified feedback emitter-coupled logic (MFECL) gate with an ECL memory-gate or D latch, because the MFECL gate is able to keep steady either of two states.Then we present a D master-slave flip-flop that consists of two ECL memory-gates.On the basis of the above theory,a five-carry shifting counter is designed using such D master-slave flip-flops.The above theory and circuits are verified through computer simulation.
Keywords:memory property of feedback ECL memory-gate  D latch  D master-slave flip-flop  five-carry shifting counter
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
点击此处可从《半导体学报》浏览原始摘要信息
点击此处可从《半导体学报》下载免费的PDF全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号