| 等离子体质谱(ICP-MS)测定高纯氧化镱中痕量稀土和非稀土杂质研究 |
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| 引用本文： | 蔡绍勤,张楠,刘湘生,安平. 等离子体质谱(ICP-MS)测定高纯氧化镱中痕量稀土和非稀土杂质研究[J]. 分析科学学报, 1997, 13(2): 97-101 |
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| 作者姓名： | 蔡绍勤 张楠 刘湘生 安平 |
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| 作者单位： | 北京有色金属研究总院 |
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| 摘 要： | 本文报道ＩＣＰ－ＭＳ直接测定高纯（５Ｎ～６Ｎ）氧化镱中稀土和非稀土杂质的新方法．对ＩＣＰ－ＭＳ测定中的光谱干扰和基体效应进行了详细考察，结果表明：用镓作内标，可有效地补偿因氧化镱引起的基体效应．方法的检出限在０．０Ｘ－０．Ｘｎｇ／ｍＬ范围；相对标准偏差（ＲＳＤ）（ｎ＝７）＜１０％．已应用于高纯氧化镱的工艺流程及其产品分析．
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| 关 键 词： | ICP－MS 高纯氧化镱 稀土杂质 非稀土杂质 内标 |
Determination of Trace Rare Earth and Non rare Earth Impurities in High Purity Ytterbium Oxide by ICP MS |
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| Cai Shaoqin,Zhang Nan,Liu Xiangsheng,An Ping. Determination of Trace Rare Earth and Non rare Earth Impurities in High Purity Ytterbium Oxide by ICP MS[J]. Journal of Analytical Science, 1997, 13(2): 97-101 |
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| Authors: | Cai Shaoqin Zhang Nan Liu Xiangsheng An Ping |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | ICP MS High purity ytterbium oxide Rare earth impurities Non-rare earth impurities Internal standard |
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