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基于FPGA的频率测试系统
引用本文:张雄刚,李会峰,霍军军.基于FPGA的频率测试系统[J].电子工业专用设备,2014(8):46-48.
作者姓名:张雄刚  李会峰  霍军军
作者单位:天水华天科技股份有限公司,甘肃天水,741000
摘    要:传统ATE比较昂贵,功率大耗电多,造成IC的测试成本偏高,针对ATE的不足之处,设计制作FPGA模块的频率测试系统,包括FPGA测试系统的组成模块,测试原理和测试方法,以及与Handler的通信设计。该测试系统占用空间小,耗电少,测试成本低,达到了节能降耗,降低测试成本的目的。

关 键 词:现场可编程逻辑门阵列(FPGA)  测频模块  自动测试  通信模块

The Frequency Test System Based on FPGA
ZHANG Xionggang,LI Huifeng,HUO Junjun.The Frequency Test System Based on FPGA[J].Equipment for Electronic Products Marufacturing,2014(8):46-48.
Authors:ZHANG Xionggang  LI Huifeng  HUO Junjun
Institution:(Tianshui Hua Tian Technology Co. Ltd, Tianshui 741000, China)
Abstract:The IC test cost is on the high side for the traditional ATE is more expensive. This thesis introduces the frequency test system of using FPGA, including test principle, test method, handler communication design and the other notes. The advantages of these test system are taking up little space, less power consumption and can realize automatic test of IC frequency.
Keywords:FPGA (Field -- Programmable Gate Array)  Frequency measurement module: Automatedtest  Communication module
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