聚丁二炔Langmuir-Blodgett薄膜的光声谱研究

本文在用X-射线小角衍射对聚合与转载先后次序不同的PDA LB膜进行结构表征的基础上，不同厚度PDA LB膜的光声斩波频率效应说明，随着PDA LB膜厚度增加，LB膜的热学性质逐渐明显。此外，还探讨了如何从PDA LB膜的光声谱求得光声吸收系数问题，本文的研究结果表明，光声谱技术是研究LB膜热学特性的有效手段。