| 锡,锗化合物的光电子能谱和质谱研究 |
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| 引用本文： | 李兴林,张瑞峰.锡,锗化合物的光电子能谱和质谱研究[J].光谱学与光谱分析,1997,17(4):33-37. |
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| 作者姓名： | 李兴林 张瑞峰 |
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| 作者单位： | 中国科学院长春应用化学研究所 |
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| 摘 要： | 用光电子能谱（ＸＰＳ）和质谱（ＭＳ）分别研究了９种锗，锡的化合物Ｇｅ３ｄ，Ｓｎ３ｄ轨道电子结合能化学位移与其所处不同化学环境的关系。着重讨论了取代基团电负性对Ｇｅ３ｄ，Ｓｎ３ｄ结合能化学位移的影响。
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| 关 键 词： | XPS MS 电子云 电负性 结合能 有机锡 有机锗 |
ABSORPTION SPECTRA STUDY FOR FULLERENE DOPED IN POLYSTYRENE FILM |
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| X Li,R Zhang,M Gui.ABSORPTION SPECTRA STUDY FOR FULLERENE DOPED IN POLYSTYRENE FILM[J].Spectroscopy and Spectral Analysis,1997,17(4):33-37. |
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| Authors: | X Li R Zhang M Gui |
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| Institution: | Changchun Institute of Applied Chemistry, Academia Sinica, 130022 Chanchun. |
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| Abstract: | The relationship between the chemical displacement of binding energy and the different chemical environment for tin and germanium compounds was studied by means of X-ray photoelectron spectroscopy and mass spectrum. |
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| Keywords: | Fullerene C 60 /C 70 Polystyrene Film Absorption spectra |
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