处理XRF的R/X比为表观活度系数由二元系数据计算三元系参数

前言 X-射线荧光分析(XRF)作为物质成份分析手段已经有三十多年的历史。随着仪器的不断改进和分析方法研究的进展,目前XRF用于地质、冶金、环保等部门已成为有效的分析方法之一。计算机技术的问世与发展使得用数学方法校正增强-吸收效应成了XRF方法研究中非常活跃的一个领域。五十年代始到现在提出来各种数学模型,它们大体上可以分为经验系数法和基本参数法两类。近年来还有一些学者在探讨经验方程与影响系数的内在联系,基本参数法与经验系数法联用的混合法也是近年来非常引人注目的和感兴趣的。所有这些研究都正在使XRF分析日趋完善。