高纯氧化镨中痕量稀土杂质的ICP—MS测定 |
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作者姓名: | 赵勇 倪德桢 |
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摘 要: | 本文研究了用等离子质谱法测定高纯氧化镨中十三个稀土杂质。确定了仪器最佳工作条件,试验了功率,雾化器流量对基体抑制效应的影响,考察了镧,铈,镨氧化物离子及氢氧化物离子的干扰,选择了测定同位素,用标准加入法校正基体的抑制作用,以改善测量精度。通过加料回收及实际分析认为本法具有耗样少,灵敏度高,操作简单的优点,可用于4N-6N纯度的氧化镨的分析。
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关 键 词: | 氧化镨 等离子质谱 稀土 杂质 ICP-MS |
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