首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      


Applications of thermoelectrometry to metal-ion modified polyimide films
Authors:Rancourt  J D  Taylor  L T
Institution:(1) Department of Chemistry, Virginia Polytechnic Institute and State University, 24061 Blacksburg, VA, USA
Abstract:As part of a research program to decrease the electrical resistivity of polyimide films with ionic additives a variable temperature three probe electrical resistivity measurement system has been designed and constructed. Sample temperature, electrification time, atmosphere, and measurement mode are computer controlled. As a data interpretation aid, temperature cycled analysis can be routinely performed. Surface resistivities in the range 103–1015 ohm and volume resistivities in the range 105–1018 ohm-cm are theoretically measurable under well controlled experimental conditions from room temperature to 250°. The electrical resistivity measurement system is useful for the evaluation of polymer films or films in general. Application of the system for analysis of cobalt, lithium and tin ion-modified polyimide films and some experimental considerations are presented. Correlation of the electrical measurements with differential scanning calorimetry, thermomechanical analysis, and thermogravimetric analysis is demonstrated.
Zusammenfassung Als Teil eines Forschungsprogramms zur Herabsetzung des elektrischen Widerstandes von Polyimidfilmen mit ionischen Additiven wurde ein 3-Proben-Meßsystem zur Ermittlung des elektrischen Widerstandes in Abhängigkeit von der Temperatur entworfen und konstruiert. Probentemperatur, Elektrisierungszeit, Atmosphäre und Meßmethoden waren computergesteuert. Als Dateninterpretationshilfe kann eine hinsichtlich der Temperatur zyklische Analyse routinemäßig ausgeführt werden. Die Oberflächenwiderstände sind im Bereich von 103–1015 Ohm und die Volumenwiderstände im Bereich von 105–1018 Ohm-cm unter gut kontrollierten experimentellen Bedingungen von Raumtemperatur bis 250° theoretisch meßbar. Das elektrische Widerstandmeßsystem ist nützlich für die Bewertung von Polymerfilmen oder Filmen im allgemeinen. Die Anwendung des Systems zur Analyse von mit Co-, Li- und Sn-Ionen modifizierten Polyimidfilmen und einige experimentelle Hinweise werden angegeben. Es wird gezeigt, daß die mit dem beschriebenen System erhaltenen Resultate mit durch DSC, thermomechanische Analyse und TG erhaltenen Werten korrelieren.

Rcyiecyzcyyucymcyiecy Scy tscyiecylcysoftcyyucy icyscyscylcyiecydcyocyvcyacyncyicyyacy ucymcyiecyncysoftcyshcyiecyncyicyyacy ecylcyiecykcytcyrcyicychcyiecyscykcyocygcyocy ucydcyiecylcy softcyncyocygcyocy scyocypcyrcyocytcyicyvcylcyiecyncyicyyacy pcyocylcyicyicymcyicydcyncyycykhcy pcylcyiecyncyocykcy, mcy ocydcyicyfcyicytscyicyrcyocyvcyacyncyncyycykhcy icyocyncy ncyycymcyicy dcyocybcyacyvcykcyacymcyicy, rcyacyzcyrcyacybcyocytcyacy ncyacy icy icyzcygcyocytcyocyvcylcyiecyncyacy acypcypcyacyrcyacytcyucyrcyacy dcylcyyacy icyzcymcyiecyrcy iecyncyicyyacy ecylcyiecykcytcyrcyicychcyiecyscykcyocygcyocy ucydcyiecylcysoftcyncyocygcyocy scyocypcyrcyocytcyicyvcylcyiecyncyicyyacy vcy zcyacyvcyicy scyicymcyocyscytcyicy ocytcy tcyiecymcypcyiecyrcyacytcyucyrcyycy pcyrcyocybcy. EcyVcyMcy kcyocyncytcyrcyocylcyicyrcyocyvcyacylcyacy tcyiecymcypcy iecyrcyacytcyucyrcyucy pcyrcyocybcyycy, vcyrcyiecymcyyacy ecylcyiecykcytcyrcyicyzcy acytscyicyicy, acytcymcyocyscyfcyiecyrcyucy icy tcyicypcy icyzcymcyiecyrcyiecyncyicyyacy. Scy pcyocymcyocyshchcy softcyyucy pcyrcyocygcyrcyacymcymcy pcyrcyocyvcyiecydcyiecyncy acy vcyscypcyocymcyocygcyacytcyiecylcysoftcyncyacyyacy icyncytcy iecyrcypcyrcyiecytcyacytscyicyyacy dcyacyncyncyycykhcy icy acyncyacylcyicyzcy tscyicykcylcyacy tcyiecymcypcyiecyrcyacy tcyucyrcy. Pcyrcyicy tcyshchcyacytcyiecylcysoftcyncyocy kcyocyncytcyrcyocylcyicyrcyucyiecymcyycykhcy ecykcyscypcy iecyrcyicymcyiecyncytcyacylcysoftcyncyycykhcy ucyscylcyocyvcy icyyacykhcy pcyocyvcyiecyrcykhcyncyocyscytcyncyocyiecy ecylcyiecykcytcy rcyicychcyiecyscykcyocyiecy ucydcyiecylcysoftcyncyocyiecy scyocy pcyrcyocytcyicyvcylcyiecyncyicyiecy mcyocyzhcyiecytcy bcyycytcysoftcy tcyiecyocyrcyiecytcyicychcyiecy scykcyicy icyzcymcyiecyrcyiecyncyocy vcy icyncytcyiecyrcyvcyacylcyiecy 103–1015 ocymcy, acy ocybcyhardcy iecymcyncyocyiecy ecylcyiecykcytcyrcyicychcyiecyscykcyocyiecy ucydcyiecylcysoftcyncyocyiecy scyocypcyrcyocytcyicyvcylcyiecy ncyicyiecy vcy ocybcylcyacyscytcyicy 105–1018 ocymcy pcyrcyicy tcyiecymcypcyiecyrcyacytcyucyrcyacykhcy ocytcy kcy ocymcyncyacytcyncyocyjcy dcyocy 250°. Scyicyscytcyiecymcy acy dcylcyyacy icyzcymcyiecyrcyiecyncyicyyacy ecylcyiecykcytcyrcyicychcyiecy scykcyocygcyocy ucydcyiecylcysoftcyncyocygcyocy scyocypcyrcyocytcyicyvcylcyiecyncyicyyacy yacyvcylcyyacyiecy tcyscyyacy pcyocylcyiecyzcyncyocyjcy dcylcyyacy ocytscyiecyncy kcyicy kcyacykcy pcylcyiecyncyocykcy vcy tscyiecylcyocymcy, tcyacykcy icy pcyocy lcyicymcyiecyrcyncyycykhcy vcy chcyacyscytcyncyocyscytcyicy. Pcyocykcyacyzcyacyncyocy icyscypcyocylcysoftcyzcyocyvcyacy ncyicyiecy tcyacykcyocyjcy scyicyscytcyiecymcyycy dcylcyyacy acyncyacylcyicyzcyacy pcyocylcyicyicymcyicydcyncyycykhcy pcylcyiecyncyocykcy, mcy ocydcyicyfcyicytscyicyrcyocyvcyacyncyncyycykhcy icyocyncyacymcyicy kcyocybcyacylcysoftcytcyacy, lcyicytcyicy yacy icy ocylcyocyvcyacy, acy tcyacykcyzhcyiecy pcyrcyiecydcyscy tcyacyvcylcyiecyncyycy ncyiecykcyocytcyocyrcyycyiecy ecykcyscypcyiecyrcyicymcyiecy ncytcyacylcysoftcyncyycyiecy scyocyocybcyrcyacyzhcyiecyncyicyyacy. Pcyrcyiecydcyscytcyacy vcylcyiecyncyacy kcyocyrcyrcyiecylcyyacytscyicyyacy ecylcyiecy kcytcyrcyicychcyiecyscykcyicykhcy icyzcymcyiecyrcyiecyncyicyjcy scy dcyacyncyncyycymcyicy dcy icyfcyfcyiecyrcyiecyncytscyicyacylcysoftcyncyocyjcy scykcyacyncyicyrcyucyyucyshchcyiecyjcy kcyacylcyocyrcyicymcy iecytcyrcyicyicy, tcyiecyrcymcyocymcyiecykhcyacyncyicychcyiecy scykcyocygcyocy icy tcyiecyrcymcyocygcyrcyacyvcyicymcyiecytcyrcyicychcyiecyscy kcyocygcyocy acyncyacylcyicyzcyocyvcy.


The financial support of the National Aeronautics and Space Administration is gratefully appreciated. The assistance of John Swartzentruber in performing many of the measurements is recognized.
Keywords:
本文献已被 SpringerLink 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号