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| Cu吸附(SiO3)n(n=1—8)团簇几何结构和电子性质的密度泛函研究 | |
| 作者姓名： | 孙建敏 赵高峰 王献伟 杨雯 刘岩 王渊旭 |
| 作者单位： | 河南大学计算材料科学研究所,开封 475004 |
| 基金项目： | 国家自然科学基金(批准号: 10804027)资助的课题. |
| 摘 要： | 运用密度泛函理论下的广义梯度近似和交换关联函数对Cu吸附(SiO2)n(n=1—8)团簇的几何结构、电荷分布、稳定性和电子性质进行了较详细的研究,结果表明: Cu原子易于和带有悬挂键的Si原子作用并形成"铜岛膜"; Cu吸附(SiO2)n团簇后Si原子失去电子能力减弱,O原子得到电子能力增强;Cu(SiO2)n(n关键词：密度泛函理论2)n (n=1—8)团簇')" href="#">Cu(SiO2)n (n=1—8)团簇近红外吸收 |
| 关 键 词： | 密度泛函理论 Cu(SiO2)n (n=1—8)团簇 近红外吸收 |
| 收稿时间： | 2009-11-23 |
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