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X-ray resonant magnetic reflectivity of stratified magnetic structures: Eigenwave formalism and application to a W/Fe/W trilayer
Authors:M Elzo  E JalO Bunau  S Grenier  Y JolyAY Ramos  HCN TolentinoJM Tonnerre  N Jaouen
Institution:a Institut Néel, CNRS&Université Joseph Fourier, BP 166, F-38042, Grenoble Cedex 9, France
b Synchrotron SOLEIL, L'Orme des Merisiers, 91192 Gif/Yvette, France
Abstract:
Keywords:X-ray resonant magnetic scattering  Reflectivity  Thin film
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