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| 全新可升级ATE保障未来三代器件需求 | |
| 引用本文： | 丛秋波.全新可升级ATE保障未来三代器件需求[J].电子设计技术,2010,18(9). |
| 作者姓名： | 丛秋波 |
| 作者单位： | |
| 摘 要： | 存储器制造商一直在寻找一种既能满足其生产和功能需求又能提供比一代器件寿命更长、投资价值更高的节约型ATE解决方案. |
| 关 键 词： | DDR4存储器测试 |
| 本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录！ | |
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